本文分析了第二代開關電流存儲單元存在的問題，提出了改進方法，並設計了延遲線電路。此電路可以精確地對信號進行采樣並延遲任意時鍾周期。解決了第二代開關電流存儲單元產生的誤差，利用此電路可以方便地構造各種離散時間係統函數。

1、第二代開關電流存儲單元分析

第二代開關電流存儲單元，在φ1(n-1)相，S1，S2閉合，S3斷開，晶體管M連成麻豆国产一区形式，輸入電流ii與偏置電流I之和給柵源極間電容C充電。隨著充電的進行，柵極電壓vgs達到使M能維持整個輸入電流的電平，柵極充電電流減至零，達到穩態，此時M的漏極電流為：

在φ2(n)相，S1，S2斷開，S3閉合，此時輸出端電流為：

Z域傳輸函數為：

綜上可看出，晶體管M既作為輸入存儲管又作為輸出管，輸出電流i0僅在φ2相期間獲得。

2、延遲線

從結果來看，由於時鍾饋通誤差和傳輸誤差的存在，第二代開關電流存儲單元(以下簡稱基本存儲單元)輸出波形嚴重失真，尤其是級聯後的電路失真更加嚴重，無法應用到實際中，所以，設計延遲線電路。

電路原理如下：電路是一個由N+1個並聯存儲單元組成的陣列，且由時鍾序列控製。在時鍾的φ0。相，存儲單元M0接收輸入信號，而單元M1提供其輸出。類似的，在φ1相，單元M1接收輸入信號，單元M2提供其輸出。這個過程一直持續到單元MN接收其輸入信號，單元M0提供其輸出信號為止，然後重複循環。顯然，每個單元都是在其下一個輸入之前一個周期，即在其前一個輸出相N個周期(NT)之後，提供輸出信號。如取N=1，則延遲線是一個反相單位延遲單元，或連續輸入信號時，它是一個采樣保持電路，此時，延遲線電路和基本存儲單元相同。請注意，對於循環的N-1個時鍾相，每個存儲單元既不接收信號也不提供信號。在這些時刻，存儲晶體管上的漏電壓值變化到迫使每個偏置電流和保持在其有關存儲晶體管中的電流之間匹配。給出Z域傳輸函數為：

用基本存儲單元級聯延遲N個周期，則需要2N個基本存儲單元級聯，並且電路的時鍾饋通誤差和傳輸誤差會隨著N的增加越來越嚴重，到最後原信號將淹沒在誤差信號中。延遲線電路若要實現信號延遲N個時鍾周期，則需要N+1個並聯存儲單元組成，並且需要N+1種時序。由於這種電路結構不需要級聯，所以並不會像基本存儲單元級聯那樣使得時鍾饋通誤差和傳輸誤差越來越大。但是時鍾饋通誤差和傳輸誤差仍然存在，以下給出解決辦法。

3、時鍾饋通誤差及傳輸誤差的改善

3．1 時鍾饋通誤差的改善

改善時鍾饋通誤差可采用S2I電路。它的工作原理為：在φ1a相，Mf的柵極與基準電壓Vref相連，此時Mf為Mc提供偏置電流JoMc中存儲的電流為ic=I+ii。當φ1b由高電平跳變為低電平時，由於時鍾饋通效應等因素造成Mc單元存儲的電流中含有一個電流誤差值，假設它為△ii，則Mc中存儲的電流為ic=J+ii+△ii。在φ1b相期間，細存儲管Mf對誤差電流進行取樣，由於輸入電流仍然保持著輸入狀態，所以Mf中存儲的電流為If=J+△ii。當φ1b由高電平跳變為低電平時，考慮到△ii

3．2 傳輸誤差的改善

傳輸誤差產生的原因是當電路級聯時，因為傳輸的是電流信號，要想信號完全傳輸到下一級，必須做到輸出阻抗無窮大，但在實際中是不可能實現的，隻能盡可能地增加輸出阻抗。

計算出輸出電阻為：

與第二代基本存儲單元相比，輸出電阻增大

倍。結合S2I電路與調整型共源共柵結構電路的優點，構造調整型共源共柵結構S2I存儲單元。

采用O．5μm CMOS工藝，level 49 CMOS模型對電路仿真，仿真參數如下：

所有NMOS襯底接地，所有PMOS襯底接電源，所有開關管寬長比均為0．5μm／O．5 μm。輸入信號為振幅50μA，頻率為200 kHz的正弦信號，時鍾頻率為5 MHz，Vref=2．4 V，VDD=5 V。表1中給出了主要晶體管仿真參數。

將原電路按照延遲線的結構連接並仿真，延遲3個時鍾周期(相當於6個基本存儲單元級聯)，仿真結果如圖l所示。

4、結語

詳細分析了第二代開關電流存儲單元存在的缺點，提出了改進方法，並設計了可以延遲任意時鍾周期的延遲線電路，仿真結果表明，該電路具有極高的精度，從而使該電路能應用於實際當中。其Z域傳輸函數為：

在實際應用中，該電路可作為離散時間係統的基本單元電路。

由於開關電流技術具有與標準數字CMOS工藝兼容的特點，整個電路均由MOS管構成，這一技術在以後的數模混合集成電路中將有廣闊的發展前景。